开关电源测试系统_开关电源问题实例解析

现象：高温测试的时候，MOSFET的壳温才80度，就炸机了。先前几台，MOS的壳温到达110度，都安然无事。

解决办法：弄出来查原因，是驱动电阻焊错了，本来10R，结果焊成100R。

分析：驱动电阻太大导致MOS损耗很大，同样的结到壳热阻，大的功耗会导致大的温差。虽然壳温才80度，但实际结温已经超过了MOS的承受范围。

驱动电阻大了，会造成驱动的功率严重不足，而将管子热死了!

如果驱动功率足够大的话，也不会炸机的。

如果PCB走线引起的电感足够大，将与MOS的GS端的电容Cgs谐振，会在驱动信号上线叠加尖峰，严重时会引起炸机，加电阻就是为了衰减这个振荡

项目：L4981 PFC

现象：空载上电，驱动乱的不得了，震荡频率明显变化。输入电压越高越厉害。开始以为，地线没布好，PCB割了又割，都是不能解决。

解决办法：仔细察了一下PCB ，发现有一根功率线立离控制电路比较近，该功率线连接的是MOSFET的D极。把该功率线隔断，让功率电流从远离控制电路的地方绕过去，没用。把靠近控制电路的PCB铜线弄成孤岛，使之成为死铜，干扰消失。

分析：电场干扰，MOS的D极是dv/dt很大的地方，产生很大的共模干扰。所以控制电路要尽量远离这个点。